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    光电探测器测试系统
     

    Model770A 可见光CCDCMOS器件测试系统

     

    器件类型:线阵和面阵

    配置组成部分:测试平台,电子机柜,可见光积分球光源,斩波器,快门,滤色片轮,光阑轮,平行光管,平面反射镜,XYZ器件位移台,反射式聚焦光学系统,电子测试系统,测试采集处理软件,计算机。

    测试方式:聚焦式和充满式

    可进行的VIS器件参数测试项目:电荷转移效率,非均匀性,暗信号,响应度,饱和等效曝光量,饱和输出电压,饱和输出电流,随机(散粒)噪声,固定图像噪声,动态范围,线性度,MTF调制传递函数,输出速率,行速率,电荷转移效率,直流偏置输出电压,等效噪声曝光量,输出阻抗,电荷转换效率,饱和曝光量等

    可进行可见光系统成像性能参数测试项目:分辨率、MRC最小可分辨对比度、MTF

    (注:其它相关参数均可由以上参数计算求得或直接进行系统测试得出,光谱相关参数可配合使用单色分光系统测得)

     

    可选配置---FPA器件测试系统

    增添部分:腔式黑体,面源黑体。

    可进行的IR器件参数测试项目:探测率(D*)RoA,响应率,噪声,均匀性,线性度,串音,点扫描,MTF调制传递函数,NETD噪声等效温差,动态范围等

    可进行红外系统成像性能参数测试项目: SiTF信号传递函数,MTF调制传递函数,MRTD最小可分辩温差, NETD噪声等效温差

    (注:其它相关参数均可由以上参数计算求得或直接进行系统测试得出,光谱相关参数可配合使用单色分光系统测得)

     

    可选配置---紫外CCD,近红外阵列器件测试系统

    需更换辐射源部分为紫外积分球或近红外专用积分球

     

    电子测试系统组成:

    图形发生模块、时钟驱动模块、直流偏压模块、

    数据采集模块(分为模拟信号采集系统和数字信号模块),主机模块,

    系统优越性:

    按用户测试需求可灵活配置

    可根据测试要求变化和成本投入增加随时进行升级

    模块化设计,易维护更换

    可集成第三方硬件

     

     

    可按用户测试需求配置单元光电探测器测试系统

     

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